Knihy od autora José Pineda de Gyvez

Zobrazeno 1 – 4 z 4 výsledků

1. 

   Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters

   Amir Zjajo, José Pineda de Gyvez | Springer Netherlands, 2010

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   1665 Kč

   Koupit
2. 

   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez | Springer-Verlag New York Inc., 2010

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Brožovaná

   6536 Kč

   Koupit
3. 

   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez | Springer-Verlag New York Inc., 2007

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   6536 Kč

   Koupit
4. 

   Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

   José Pineda de Gyvez | Springer, 1992

   
   

   Skladem u dodavatele - Odesíláme za 14-18 dnů

   Jazyk: Angličtina

   Vazba: Pevná

   3289 Kč

   Koupit

Poskytujeme slevy pro studenty, učitele a držitele ISIC. Zjistěte více